日本最大のエレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展
外観・X線検査装置、テスタ、環境試験・信頼性試験装置、各種分析装置など、あらゆる検査・試験装置の有力メーカーが一堂に出展。新製品・最新技術の導入検討、情報収集を行うことができるエレクトロニクス関連技術者必見の展示会となっております。
開催概要
| 開催展名 | 第30回 エレクトロテスト ジャパン 〜エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展〜 |
| 会期 | 2013年1月16日［水］〜18日［金］ |
| 開場時間 | 10:00〜18:00 (18日［金］のみ17:00終了) |
| 会場 | 東京ビッグサイト |
| 主催 | リード エグジビション ジャパン 株式会社 |
| 併催企画 | 専門技術セミナー |
| 特設ゾーン | 画像処理ゾーン |
| 出展メーカー | 等 |
＜併催展＞
- 第42回 インターネプコン ジャパン
- 第14回 半導体パッケージング技術展
- 第14回 電子部品 EXPO
- 第14回 プリント配線板 EXPO
- 第 4 回 先端 電子材料 EXPO
- 第 3 回 ［精密］ ［微細］ 加工技術 EXPO
＜同時開催展＞
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