磁性体材料・半導体デバイス・熱伝導率の評価は、熟練した測定エンジニアが実施します。
B-Hアナライザ、カーブトレーサ、熱伝導率測定装置を使い、熟練した測定エンジニアが評価します。お客様の測定工数の削減に寄与します。
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B-Hアナライザ、カーブトレーサ、熱伝導率測定装置を使い、熟練した測定エンジニアが評価します。お客様の測定工数の削減に寄与します。
受託測定 実施中!
弊社は受託測定も承っております。対応する測定は以下の通りです。
詳細につきましては、お問い合わせ率下さい。
1.「磁性体材料」
B-Hアナライザを活用した受託測定
・磁性体材料のB-H特性、損失特性が分かります。
・周波数ごとの特性の違いを評価できます。
・測定範囲例
最大周波数:10MHz
最大電圧:±150V
最大電流:±6A
最大直流重畳:30A
単板測定は、周波数:10Hz-20kHz,最大磁界:10,000A/m,
試料サイズ:L36mm以上,W35mm以下,D3mm以下。
2.「半導体デバイス(パワーデバイス)」
カーブトレーサ(I-V特性評価など)を利用した受託測定
・IGBT、MOSFET、SiC パワーデバイスなどの特性評価
・高電圧試験、大電流試験ができます。
・測定範囲例
最大電圧: 10kV 最大電流:8000A
・使用機種: CS-3300、CS-5400、CS-10000シリーズ
3.「熱伝導率測定」の受託測定
熱伝導率測定装置を利用した受託測定
・厚さの異なる試料測ることによる接触熱抵抗の補正を行うことができます。
・少量でも対応いたします。
・各種放熱シート、断熱シードなどが測定対象です。
・測定範囲例
測定方法 温度傾斜法
測定温度範囲 20℃~ 130℃
※低温、高温については別途ご相談ください
試料サイズ 30mm×30mm
試料の厚さ 0.05 ~ 10mm
お問い合わせにつきましては、下記のフォームをご利用下さい。