アナライザ（磁束密度計） (UHS-1DS、 UHS-3DS)

日本電磁測器株式会社｜最終更新日：2020/10/06

基本情報

表面の磁束密度や磁束量の分布を用途に応じて多次元に測定できます

磁石表面の磁束密度または磁束量分布を測定し、2次元、3次元表示します。回転測定、平面測定、または両方を測定します。着磁後の特性データも解析できます。

■　USBでパソコンとの接続が簡単

■　測定装置内にテスラメータ、通信インターフェース全てを内蔵した省スペース設計

■　NDKオリジナルソフトによりユーザニーズに合わせたソフトウェアの変更が可能

■　大型ロータ用等の特殊仕様品にも対応可能

■　温度可変測定可能　最大200℃（オプション）

UHS-1DS ( ３Ｄ表示）

UHS-3DS X-Y（３D表示）

UHS-3DS R-X-Y-Z,（３D表示）

※UHSシリーズのプロープは水平型　3種類、垂直型　2種類をご用意しております。

詳しくは磁気測定器カタログ　4頁　をご参照ください。　

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ご要望に沿った製品提案を行うために、参考情報として下記の質問にお答え下さい。

磁束測定試験を希望されますか *	表面の磁束密度について希望します表面の磁束量分布について希望しますその他
アナライザーについて *	カスタマイズしたい特殊仕様への対応を希望温度可変測定希望その他
NDK製の着磁器をご使用でしょうか *	NDK製を使用他社製を使用使用していないその他

企業名: 日本電磁測器株式会社
企業PR: マグネット着磁機器と非破壊検査機器のパイオニア。磁気・超音波技術を活かしたモノづくり集団です。AIがカメラ画像を自動判定し非破壊検査に画期的な進化をもたらしました。超電導を利用した測定装置などトータルソリューションでお客様のニーズとシーズにお応えします。