半導体・IC測定器・インサーキットテスタ | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

半導体・IC測定器・インサーキットテスタの製品一覧

全62件見つかりました。

半導体カーブトレーサ (CS-8000シリーズ)

半導体カーブトレーサCS-8000シリーズは、多彩なユニットの組み合わせで、あらゆる工程における特性評価に最適で、次世代の半導体測定に対応します。

■最大5kV、最大2000Aでのハイパワーテスト　　　　　 ■正確な微小電流測定　(分解能250fA）　　　　　　　　 ■大画面12.1インチのタッチスクリーン　　　　　　　　 ■多彩なGATE信号出力機能　　　　　　　　　　　　　　 ■充実した温度特性測定オプション　　　　　　　　　　 ■プローバーでのハイパワーオンウェハテスト

3,200,000円~

岩崎通信機株式会社｜最終更新日：2024/12/27

半導体カーブトレーサ (CS-3000/CS-5000シリーズ)

IGBTやMOSFET、トランジスタ、ダイオードなど各種半導体の特性測定に最適

5,000V耐圧のパワーデバイスのブレークダウン測定や、SiC,GaN、IGBTやMOSFET、トランジスタ、ダイオードなど各種半導体の特性測定に最適です。CS-3100-300V廉価版モデルもご用意しております。

3,200,000円～

岩崎通信機株式会社｜最終更新日：2024/12/27

コンパクトタイプ両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる）装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/15