多機能なハードウェアと総合ソフトウェア

電気二重層コンデンサ自動測定システム8801は、電気二重層コンデンサ(EDLC)を測定する最終検査にご利用いただけます。プログラマブルDC電源、プログラマブルDC電子負荷、シーケンスアナライザ、LCRメータで構成されており、オープンアーキテクチャのソフトウェアを用いて、フレキシブルな組合せが可能になっております。

Model 8801は、独自の測定コマンド技術により、重複する制御コマンドを避け、測定速度を大幅に改善し、 EIAJ RC-2377標準規格を満たしています。また、優れた測定編集機能は、測定データの拡張性に富んでおり、オープンアーキテクチャのソフトウェアにも、統計分析と管理機能を備えているため、各種異なる測定ドキュメントの生成とシステムの管理を実行させることができます。Windows 2000/XPの OS環境化での動作も保証しております。

ATS外観例

1. 電気二重層コンデンサの生産ラインにおける測定、測定パラメータはキャパシタンス (Static Capacitance)と内部抵抗測定(IR&ESR)(EIAJ RC-2377電気二重層コンデンサの測定方法に適合)を装備しております。
2. オープンアーキテクチャソフトウェアプラットフォーム 
   - GPIB/RS-232インターフェース付計測器をサポート 
   - 測定項目の編集機能 
   - 測定プログラムの編集機能 
   - 統計分析レポートの編集機能 
   - オンライン計測器制御機能 
   - ユーザ権限設定 
   - 測定項目/プログラムコントロール機能 
   - 人員システム時のログインログアウト記録 
   - マルチ被測定物の測定能力 
   - バーコードリーダのサポート
3. IAJ RC-2377標準規格を満たした精密測定可能な実行ステップ項目(C/IR/ESR)
4. 測定項目による測定効率の改善
5. マルチチャンネル同期測定による測定時間の短縮可
6. ハードウェア保護回路
7. 費用の便益性
8. ハードウェアの拡張が可能
9. グラフィカルユーザインタフェースWindows2000/XPのOS環境

自動試験システム(ATS)主要機器構成例

各種試験冶具も対応可能

ATSと試験試料を接続する各種の冶具も製作いたします。

　（試験冶具一例）