in-Situナノインデンター (NanoFlip)

株式会社東陽テクニカ|最終更新日:2020/10/06

基本情報

in-Situナノインデンター
  • in-Situナノインデンター

電子顕微鏡などのイメージング装置に搭載して、イメージングと機械特性評価を実現する新しいタイプのナノインデンターです。

NanoFlipは通常のインデンターでは困難な、微小領域の硬さ測定やマイクロピラーや粒子の圧縮試験をイメージング装置と同期しながら実現します。局所機械特性評価を可能とする、硬度・ヤング率マッピング機能などの拡張性も有します。

型番
NanoFlip
価格
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発売日
発売中
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in-Situナノインデンターの特長

NanoFlipは、押し込み試験の第一人者Dr.Warren Oliverにより新たに設計された最新のナノインデンターで、小型で高精度なInForce50押し込みヘッドと、90°フリップ動作するサンプルステージを組み合わせ、サンプルの表面イメージングとその場のナノインデンテーションを実現します。

手のひらサイズの小型ボディーのため、電子顕微鏡(SEM)やFIB、各種光学顕微鏡、AFM(原子間力顕微鏡)、ラマン、XRDなど既存のイメージング装置に容易に組み込み、各種光学情報と機械特性の同時評価ができます。

特長

  • 独自のフリップステージを採用
  • ステージポジション変更でイメージングとインデントを切り替え
  • 高精度InForce50アクチュエータを装備
  • 既存のSEM, FIB, AFM, 光学顕微鏡,等へ組み込み可能
  • ISO14577 Part 1準拠
  • 連続剛性測定法(CSM)による硬度/ヤング率の深さ方向へのプロファイル測定
  • ポリマーの局所動的粘弾性、高速マッピングNanoBlitz3D/4Dなどに対応

 

in-Situナノインデンターに関するお問合せ

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