低高温(ATC)ICテストハンドラ (Chroma 3110-FT)

クロマジャパン株式会社|最終更新日:2024/11/12

基本情報

低高温(ATC)ICテストハンドラ
  • 低高温(ATC)ICテストハンドラ

ファイナルテストやシステムレベルテストにおけるICテストに対して革新的な1台。多様なデバイスサイズ、デバイスタイプをハンドリング可能。

設定可能温度 -40~125℃
FT試験及びSLT試験対応
測定可能パッケージ寸法 3x3 mm~45x45 mm
コンタクト圧制御可能範囲 1~10 kg (オプション)

型番
Chroma 3110-FT
価格
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発売日
発売中
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低高温(ATC)ICテストハンドラの特長

製品特徴

  • 設定可能温度 -40~125℃
  • FT試験及びSLT試験対応
  • 測定可能パッケージ寸法 3x3 mm~45x45 mm
  • コンタクト圧制御可能範囲 1~10 kg (オプション)
  • 分類トレイ最大4分類(ソフトウエア分類上限なし)
  • リモートコントロール オペレーション
  • 歩留監視機能搭載
  • インテリジェントオートリテスト&オートリトライ機能搭載
  • リアルタイム トレイステータス

※詳細仕様は当ページ内「カタログ」タブよりご覧ください。

評価やテスト開発に理想的なChroma 3110-FTは、ファイナルテストやシステムレベル テストにおけるICテストに対して革新的なハンドラーです。本ハンドラーは、様々なデ バイスタイプや、様々なデバイスサイズ(3x3mmから45x45mm)をハンドリングする ことが可能です。更に生産性を上げるために、3110-FTはオプションにてリモートコン トロールを提供します。リモートコントロールは、インターネット接続により、別の 場所からハンドラーを操作することを可能とします。また、2つのオート分類トレイと 2つのマニュアル分類トレイの装備により、コストと時間を節約するため、3110-FTは 1.4mm2のフロアスペース内でハンドリング能力を最大限発揮します。

3110-FTは、ほとんどの工業標準インタフェースをサポートする様に設計されているとともに様々なテスタに対応するため、異なった接続オプションを用意しています。また、デバイスの耐久性を確認する-40℃~+125℃のテスト環境をサポートすることが可 能です。加えて、ユーザーにフレンドリーなグラフィックインタフェースと機敏なデバ イスのセットアップにより、ハンドリングは短く容易であり、更にフレキシビリティと 生産性を増加しています。

低高温(ATC)ICテストハンドラの資料ダウンロード

低高温(ATC)ICテストハンドラに関するお問合せ

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出展企業情報

企業名
クロマジャパン株式会社
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AC電源やDC負荷でグローバルに活躍する総合計測器メーカーChroma ATE(クロマ)は台湾のハイテク産業の発展とともに世界中でパワーエレクトロニクス、受動素子、電気安全性、ビデオ&カラー液晶(LCM)、カーエレクトロニクスなどの半導体産業に対する試験・測定システムの提供しています。さらに、太陽光発電、LED、リチウムバッテリ、電源、バッテリーパック、電気自動車などの新しいエコロジー産業のクリーンテクノロジーに向けてのテストソリューションの開発に力を注いでいます。
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