新型シリコンドリフト検出器（SDD）を採用

・高感度高スループット測定

　高エネルギー側の量子効率を向上させた、新しいシリコンドリフト検出器（SDD）を搭載。

　Cd Kα, Pd Kα, Ba Kαなどのエネルギー帯に対し、高感度で高スループットな測定を実現します。

新開発 　　 シリコンドリフト検出器

・高分解能・高計数率を実現

高分解能・高計数率を実現したSDDにより、 EA1400は従来機よりも、主成分に近接する 微量元素の検出性能に優れ、金属種の品質管 理などに威力を発揮します。

・真空システム＋新開発SDD

真空システムと新たなSDDの組み合わ せにより軽元素の感 度が大幅に向上し たため、軽元素を含むスラグやセメン トな どの工程管理や品質管理の強化に 貢献します。

RoHS対応をはじめ幅広い領域で活躍

・RoHS対応：黄銅中のCdスクリーニング分析をさらに高スループット化

　黄銅など金属に含まれる微量のCdの測定時間において、当社従来機(EA1000VX)に比べ

　2倍以上のスループットを実現します。

　30秒測定時の黄銅中の各元素検出下限値（mg/kg）

＊各検出下限は一例であり、保証値ではありません。

・製錬炉の工程管理：高感度によりスラグの成分測定で迅速・高精度を実現

　スラグの主要成分Si, Ca, Al, Mgの組成情報から製錬炉(工程)の状態管理を行います。

　特に、新型SDDによりMg等の軽元素の定量精度が向上しました。

・品質管理：製品に付着・埋没した異物を検出

　X線斜方照射方式では測定が難しい凹凸のある母材に付着した異物に対して、

　EA1400の試料同軸観察・X線垂直照射方式では、異物を取り出すことなく、

　異物由来の元素を検出し物質同定することができます。

蛍光X線分析装置 (EA1400)　仕様

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