その他の検査/リペア装置の製品一覧
全22件見つかりました。
ウエハー表裏面のアライメントマークの自動検査システム
◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、ＭＥＭＳ、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆ＸＹステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。
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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/15
ナノレベルの薄膜の密着強度を定量的に測定できます。
通常のスクラッチ法より薄い膜の剥離検出を実現したマイクロスクラッチ法（JIS R-3255、JIS K 7376）準拠の試験機です。膜厚10nmの測定実績もあります。
12,000,000円～
株式会社レスカ｜最終更新日：2024/11/15
AF機能を搭載し表裏の位置ずれを高精度自動計測！ ワークを裏返しせず、同軸で表裏の観察・外観検査が可能！
・小型化高精度化し、両面の位置ずれを±１umで測定 ・FA自動化へ対応可能なシステム ・両面ともにAFを搭載可能で、再現性が高い計測が可能 ・下側にIRカメラも搭載可能で、内部の位置ずれも計測可能
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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/15
表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測 両面測定顕微鏡。 高精度、低価格化を実現。
水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！ 表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！ 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる） 装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！
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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/15
簡単操作で高機能、省スペースで多彩なニーズに応えます。
画像処理を用いて測定物の輪郭・エッジを検出することで、測長・幾何公差との照合が出来る測定機です。
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株式会社ミツトヨ｜最終更新日：2024/11/15
すべての透明性を求められる用途に精密で信頼性の高い透過ヘイズ測定機器
透明性を求められるプラスチックフィルムやガラス、レンズなどの用途での全光線透過率、透明度、透過ヘイズを測定します。
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株式会社テツタニ｜最終更新日：2024/11/15
複数の接触面で広角度を高精度測定
角形モデルのClinotronicシリーズは最高4面を利用し、＋/－の反転なく平行度の測定に対応するデジタル水準器です。重力補正機能によりClinotronic Sは広角度45度で最小許容誤差1分30秒、 wylerCLINO Frameは60度で1分15秒を実現します。
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YKT株式会社｜最終更新日：2024/11/15
高感度デジタル水準器が精密アライメントをサポート
耐衝撃性に優れた静電容量センサと、温度自動補正機能による信頼性の高い測定結果が市場で高く評価されています。豊富な測定ベースと測定項目に応じた専用ソフトウェアを組み合わせることで、様々なアプリケーションの精密測定に応えます。
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YKT株式会社｜最終更新日：2024/11/15
超高解像度での二次元輝度および色度測定
ProMetric Gシリーズは、LED、OLED、照明器具、光源、プロジェクションシステムなどの色、明るさの空間分解測定に最適です。ダイナミックレンジ・高い空間解像度・広い視野・スピードのバランスがよく、開発、量産での検査、品質管理、などの様々な環境で使用することができます。
6,350,000円～
株式会社システムズエンジニアリング｜最終更新日：2024/11/14
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