ガラス基板の製品一覧
全24件見つかりました。
これまで個人差による誤差が大きかったタッキネスの測定データを、定量的に評価することが可能に！
進入速度、加圧力、加圧時間、引き離し速度を制御したプローブでサンプルに押し付け、引き離す過程で粘着力を測定します。データはパソコンで処理可能です。ダブル温調（特許）により、予備加熱した試料に加熱プローブを接触させ、温度を一定に保ちながら加熱と加圧を行い、粘着力を計測できます。この技術で、金型との離形成やトナー定着ベルトの測定が可能で、最短10ミリ秒でタッキネスも計測できます。
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株式会社レスカ｜最終更新日：2024/12/24
ナノレベルの薄膜の密着強度を定量的に測定できます。
通常のスクラッチ法より薄い膜の剥離検出を実現したマイクロスクラッチ法（JIS R-3255、JIS K 7376）準拠の試験機です。膜厚10nmの測定実績もあります。
12,000,000円～
株式会社レスカ｜最終更新日：2024/11/15
簡単操作で高機能、省スペースで多彩なニーズに応えます。
画像処理を用いて測定物の輪郭・エッジを検出することで、測長・幾何公差との照合が出来る測定機です。
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株式会社ミツトヨ｜最終更新日：2024/11/15
検査現場の“最適解”となるマルチセンサ測定機
画像センサによるエッジ検出やオートフォーカスで、高速自動測定を行います。豊富なオプション測定センサを追加・併用することで接触測定や形状測定にも対応します。 開発から量産まで、幅広い運用が可能な三次元測定機です。
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YKT株式会社｜最終更新日：2024/11/15
テレセントリックズームレンズ搭載の最上位モデル
ズーム内の全てのレンズをテレセントリックレンズで構成。全ての倍率段階でテレセントリック状態を維持することで、極めて高い視野内精度を獲得しています。高い追従性と精度を両立する同軸（ＴＴＬ）レーザ変位計が搭載可能なことも、同機が選ばれる理由になっています。
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YKT株式会社｜最終更新日：2024/11/15
画像を分光スペクトル解析。 待望の二次元タイプ分光放射計を開発。
2D分光放射計SR-5000は、従来の点測定の分光放射計と同等の性能を持つ面測定可能な2D分光放射計です。 ディスプレイ業界において、スーパーハイビジョン規格UHDTVの色域規格BT.2020により色域が大幅に拡大しておりレーザー光を搭載したディスプレイやOLEDディスプレイが開発されるようになってきています。これらに対応した高精度な計測器へのニーズに対応すべく、新開発しました。
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株式会社テクノオプティス｜最終更新日：2024/11/14
人が視認する画像の鮮明レベルを定量化する。同じディスプレイ解像度で視認する解像度は異なります。
国際標準化IEC制定予定の新開発のLine-based方法を採用。様々なディスプレイ、 ディスプレイデバイス、素材/部材の空間解像度定量評価（空間分解能評価）ができます。 当製品のデモ測定、ご見学は、お気軽に当社テクノロジーオフィスに お越し下さいませ。
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アフロディ株式会社｜最終更新日：2024/11/14
ディスプレイの光学測定評価を受け承ります。
装置検討されているお客様や直ぐに装置購入が出来ないお客様に最適な 有償サービス内容です。弊社デモルームに最先端の評価システムを取り揃えております。技術アドバイスも行いますので、質の高い評価が可能です。
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アフロディ株式会社｜最終更新日：2024/11/14
超高感度近赤外線カメラ 広帯域な高感度(400nm～1700nm) 高品質SWIRカメラ
□134万画素InGAsカメラ可視から近赤外線まで受光可能（400nm～1700nm） □ベルチェ冷却採用 □画像鮮明化機能（本体内蔵） □71fps表示でライブ画像がなめらか □近赤外線（SWIR）用のカメラからレンズ・照明・画像処理までトータル的に提案します □専用PCで、確実に記録（オプション） □弊社AFユニット接続可能
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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/08
表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。
◆6インチＸＹステージを搭載！ ◆水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！ ◆表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！ ◆±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（被写体や環境条件により異なる） ◆表裏２ｃｈオートフォーカスユニット組み合わせ可能！（オプション）
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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/08
最近登録された製品
【新製品】マルチファンクションジェネレータ WF1983 / WF1984発売！！必要な波形を容易に出力。 テストの品質および効率向上に。
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