用語集一覧

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試験機

材料の物理的性質、又は製品の品質・性能を調べる装置。 目的に応じた、環境試験機、振動試験機、引張試験機などがある。

示差走査熱量測定

試料および基準物質で構成される試料部の温度を一定のプログラムによって変化させることにより、両者に加えた単位時間当たりの熱エネルギーの入力差を温度の関数として測定する方法。=DSC。

示差熱分析

試料及び基準物質の温度を一定のプログラムによって変化させながら、その試料と基準物質の温度差を温度の関数として測定する方法。=DTA。

四重極質量分析計

質量分析計の一種でイオンの分離に四重極を用いるもの。直流と高周波を重ね合わせた電圧を円の断面をもつ4本の電極(四重極)に加えると、特定の質量/電荷数(m/z)を持つイオンだけが安定な振動をして電極間をすり抜け、検出器に入ることができる。これを用いて質量/電荷を測定し、イオンを分析する。小型、コンパクト、比較的安価な質量分析計であるので、GC/MS、LC/MS、真空中の残留ガス分析などに用いられる。=四重極マス、QMS。

室温補償

熱電対を使用して温度を測定する場合計測器の入力端子部の温度を測定して補償すること。熱電対は原理上温度差に応じた熱起電力を発生するため、室温補償を行わなければ、絶対的温度測定を行えない。

質量分析法

試料分子をイオンにしたのち、質量/電荷の比(m/z)に従って分離し検出を行う分析法。非常に感度が高く、ng程度、場合によってはpgレベルの検出ができる。各種分析法の検出器として質量分析装置を用い、物質の同定や微量検出に用いる場合も多い(GC/MS、ICP-MS、TG-MSなど)。=MS

遮断周波数

フィルタなどにおいて、通過帯域と減衰帯域の境界の周波数。 通常3dB 低下した点の周波数をいう。

集束イオンビーム

電界で加速したイオンビームを細く絞ったもの。試料にビームを当てることにより、微細加工、蒸着、観察に用いる装置のこともいう。試料の微細箇所を狙って加工ができるため、SEM、TEMの前処理として用いられることも多い。=FIB。

周波数応答

ある入力周波数に対して出力信号の振幅比、位相ずれが周波数によって変化するありさま。 フイルターやアンプの特性を表すのに周波数応答を使う。応答とは入力に対する出力結果。

周波数帯域

通信などに用いる周波数の範囲のこと。周波数帯域は、伝播に利用する周波数のうち、一番低い周波数と一番高い周波数の間の周波数域を指す。周波数帯域が広いほど一度に多くのデータを送ることができる。 データの通信速度が速いことを、「帯域が広い」と表現することがあり、デジタル通信の場合では、伝送速度と同じ意味で用いられることが多い。 

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