TEM CELL/ストリップライン試験システム (-)

株式会社ノイズ研究所|最終更新日:2024/11/11

基本情報

TEM CELL/ストリップライン試験システム
  • TEM CELL/ストリップライン試験システム

ISO 11452-3/5対応!車載電子機器の電磁界ノイズによるイミュニティ試験

車載電子機器および接続されるハーネスやDUT本体が強い電磁界に曝された際の耐性を評価する試験システムです。

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TEM CELL/ストリップライン試験システムの特長

TEM Cellおよびストリップラインに供試品を設置し、発生する電磁界に曝し規定の周波数・試験レベルで耐性を評価します。

● 準拠規格名:SAE J1113/23/24, ISO 11452-3/5, 2004/104EC, 97/24/EC, JASO D001-94/D011,
  その他各社メーカー規格

● TEM-CELLは上限周波数1GHz/500MHz/400MHz/200MHzタイプをご用意

TEM Cellでの試験では、Cell 内の中心導体と外部導体の平行平板間に供試品を設置し、平行平板間で発生する電磁界に曝し規定の周波数・試験レベルで耐性を評価します。

ストリップラインでの試験ではストリップラインの平行平板間にハーネスを設置し、平行平板間に発生する電磁界に曝し規定の周波数および試験レベルで耐性の評価をします。

製品特長

  • ISO 11452-3/5、R10、各社メーカー規格に準拠したシステムです。
  • ハーネス支持冶具・接合板など試験の再現性を向上する周辺装置をご用意しています。
  • 測定を行う際のオプション(テーブル、GND プレーン等)を豊富に取り揃えています。

製品仕様

 測定周波数範囲 

 10kHz~400MHz 

 試験レベル 

 200V/m 

 変調方式 

 AM 1kHz 80% 
 代表的な準拠規格名 

 SAE J1113/24,ISO 11452‐3,(TEM Cell) 

 SAE J1113/23,ISO 11452-5 (ストリップライン) 

 R10, 2004/104EC(旧:95/54EC),97/24/EC 

 JASO D001-94,JASO D011 その他各社メーカー規格 

 お見積り・ご質問等、お気軽にお問合せ下さい。

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TEM CELL/ストリップライン試験システムに関するお問合せ

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