欠陥検査装置 | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

欠陥検査装置の製品一覧

全50件見つかりました。

光コム3次元センサ上面検査装置 (OptoComb SA)

デスクトップ型光コム3次元センサ。どなたでも簡単に高さ精度±1µmの3次元画像を取得できます。

光コム3次元センサーを活用した3次元検査装置のベースモデルです。XYZのステージによってワーク上面を検査します。凹凸のある鋳造製品の加工面など複雑形状部品の外観、形状、寸法検査が1度の測定で可能です。小型ワークを複数並べての同時検査など幅広い用途で活用できます。

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株式会社OptoComb｜最終更新日：2025/02/28

内面検査装置 (OptoComb HS)

高速ヘリカルスキャン測定による内面検査装置

光コム3次元センサーと45°ミラーと組み合わせ、高精度測定と独自の同軸構成を活用し、穴の内壁や複雑な円筒構造を数秒で検査できます。

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株式会社OptoComb｜最終更新日：2025/02/28

ラマンセンサー (Raman EYE)

プロセス・顕微計測が可能なハイブリッドラマンセンサー

532nm(緑色レーザー),785nm(赤色レーザー),830nm(近赤外レーザー)の波長から励起光源を選択でき、様々な材料計測を迅速に実現します。世界最小のプロセス・顕微計測ラマンセンサーを実現することで、あらゆるプラットフォームに搭載でき、お客様の環境や設備に合わせたご提案が可能です。

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メタセンシング株式会社｜最終更新日：2024/12/24

原子間力走査型電子顕微鏡 (FusionScope)

AFMとSEMのコンビネーションによるIn-situ測定

AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。

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日本カンタム・デザイン株式会社｜最終更新日：2024/12/24

8インチXY電動ステージ制御　両面顕微鏡計測システム (TOMOS-80XY)

ウエハー表裏面のアライメントマークの自動検査システム

◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、ＭＥＭＳ、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆ＸＹステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。

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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/15

コンパクトタイプ両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる）装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/15

CNC画像測定機　クイックビジョンACTIVE (QV-ACTIVE)

簡単操作で高機能、省スペースで多彩なニーズに応えます。

画像処理を用いて測定物の輪郭・エッジを検出することで、測長・幾何公差との照合が出来る測定機です。

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株式会社ミツトヨ｜最終更新日：2024/11/15

【BYK】ウェーブ-スキャン 3 デュアル（塗装表面性状測定） (Cat No.7400)

高光沢から中光沢表面のオレンジピールおよびDOI（写像鮮明性）測定

外観の管理はもはや最終トップコート検査には限られません。ウェーブ-スキャン 3 デュアルは、レーザー光源を用いて光沢面の光学プロファイルをスキャンします。さらに、高エネルギーの赤外 LEDで光沢表面の同じストラクチャースペクトル(0.1-30mm)を測定します。ダルネスは最新鋭のCCDカメラで測定され、＜0.1ｍｍのストラクチャーの表面写実性に関する情報が得られます。

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株式会社テツタニ｜最終更新日：2024/11/15