基板検査装置の製品一覧

33見つかりました。

USB-IF認定テストラボで実施するUSB関連機器の包括的なテスト

GRLは、USB-IFの認定を受けた独立テストラボ(ITL)で、USB4®、USB3.2、USB2.0、USB Power Deliveryなど、周辺機器、ホスト、ハブ、チャージャーの専門知識持ったエンジニアが総合的なテストを提供します。

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グラナイトリバーラボ・ジャパン株式会社|最終更新日:2025/01/28

開発段階でプリント基板の EMI 抑制に使用される EMC ツールのセット

E1 セットを使用して、バーストおよび ESD 干渉の原因を迅速に特定できます。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/01/15

ナノレベルの薄膜の密着強度を定量的に測定できます。

通常のスクラッチ法より薄い膜の剥離検出を実現したマイクロスクラッチ法(JIS R-3255、JIS K 7376)準拠の試験機です。膜厚10nmの測定実績もあります。

価格12,000,000円~

株式会社レスカ|最終更新日:2024/11/15

表裏(両面)の位置ずれ/寸法/計測 両面測定顕微鏡。 高精度、低価格化を実現。

水晶振動子、MEMS、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に! 表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能! 表裏光軸補正はマイクロステージ+ソフトウェアで高精度に補正! ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定!(条件により異なる) 装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能!

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株式会社フローベル|最終更新日:2024/11/15

簡単操作で高機能、省スペースで多彩なニーズに応えます。

画像処理を用いて測定物の輪郭・エッジを検出することで、測長・幾何公差との照合が出来る測定機です。

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株式会社ミツトヨ|最終更新日:2024/11/15

検査現場の“最適解”となるマルチセンサ測定機

画像センサによるエッジ検出やオートフォーカスで、高速自動測定を行います。豊富なオプション測定センサを追加・併用することで接触測定や形状測定にも対応します。 開発から量産まで、幅広い運用が可能な三次元測定機です。

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YKT株式会社|最終更新日:2024/11/15

複数の接触面で広角度を高精度測定

角形モデルのClinotronicシリーズは最高4面を利用し、+/-の反転なく平行度の測定に対応するデジタル水準器です。重力補正機能によりClinotronic Sは広角度45度で最小許容誤差1分30秒、 wylerCLINO Frameは60度で1分15秒を実現します。

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YKT株式会社|最終更新日:2024/11/15

高感度デジタル水準器が精密アライメントをサポート

耐衝撃性に優れた静電容量センサと、温度自動補正機能による信頼性の高い測定結果が市場で高く評価されています。豊富な測定ベースと測定項目に応じた専用ソフトウェアを組み合わせることで、様々なアプリケーションの精密測定に応えます。

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YKT株式会社|最終更新日:2024/11/15

コンパクト、高性能、高い接続性!どのような研究室にもフィットします

Thermo Scientific Nicolet Summit FT-IRは、迅速かつ確実にサンプルを同定、検証、定量することができ、日常の分析作業の生産性を向上させます。 Windows 10コンピューターによって操作・解析を実行。 柔軟な接続性により、クラウドベースのネットワークへの接続、Wi-Fiまたは イーサネット経由でローカルネットワークへの接続が可能です。

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サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社|最終更新日:2024/11/14

多様化する分析ニーズに対応したFT-IRの新たなスタンダード!

Thermo Scientific Nicolet iS20 FT-IRは、数々のイノベーションでFT-IRの新たなスタンダードを構築します。先端技術により設計された光学系、LightDriveオプティカル・エンジンにより、次世代の分析パフォーマンスを実現します。干渉計、レーザー、赤外光源は10年保証。そして優れたS/N比や波数分解能によって、データ収集にかかる時間を削減します。

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サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社|最終更新日:2024/11/14

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