Quality Engineering Associates (QEA), Inc. ハンディ型画質解析装置 (PIAS-II)

いつでも、どこでも、簡単に! 印刷画質を客観的に測定することができます!

QEAが開発した画期的な携帯型画質解析装置です。優れた機能を備え、測定法は画像評価のためのISO-13660等の国際標準に基づいており、測定値はすべて校正されています。

製品名
ハンディ型画質解析装置
型番
PIAS-II
価格
お問合せ下さい
発売日
発売中
  • ハンディ型画質解析装置
  • ハンディ型画質解析装置

ハンディ型画質解析装置の特長

 

■バッテリー不要で、高速USB2.0でPCに接続する高性能デジタルカメラタイプ 
■ISO-13660に基づいた画像の定量的な評価 
■高解像度と低解像度の2種類の測定モジュール 
■エクセル、その他のアプリケーションにデータや画像を容易に転送可能 
■画像はビットマップ保存可能 
■多様なファイルフォーマットで保存した画像解析が可能 
■持ち運びに便利な人間工学に基づいた設計で小型軽量 

 

PIAS-II はデジタル拡大鏡です

PIAS-II は画質評価の新しい世界を拓くデジタル拡大鏡です。高解像度の画像がリアルタイムで表示されるので、瞬時に画質の評価、解析を行い結果の情報共有が可能です。

品質の評価基準

 

印刷装置の設計

 

インクの研究開発・評価

 

犯罪科学におけるソリューション

 

豊富な分析ツール

標準機能ツールボックス:ドット・ライン・エッジ・面画像の特性測定、NPS

 

 

上級機能ツールボックス:標準機能ツールボックスの全機能、及び SFR ( 空間周波数反応)NPS (ノイズパワー ・スペクトル 、 Reg (SFR 法を用いたカラーレジストレーション)

 

ドット特性の測定

(LR)= 低解像度オプティックス           ( HR)  =  高解像度オプティックス

 

主な仕様

 観察領域 High resolution module : ~3.2x2.4mm
Low resolution module : ~21.3x16mm
 光学モジュール High resolution module : ~2.5μm/pixel
Low resolution module : ~16.5μm/pixel
 標準機能 ドットのハーフトーンの測定
(数 面積 直径 真円度 ドット%等)
 ラインとエッジの測定
(線幅 ぼやけ度 コントラスト 断裂 方位)
 面画像の測定
(RGB XYZ L*a*b* ΔE 粒状度 モトル)
 上級機能 空間周波数応答 (Spatial Frequency Response)
ノイズパワースペクトル (Noise Power Spectrum)
傾斜エッジ法を用いたカラーレジストレーション (Color Registration using the slant edge method)
文字自動認識測定
グラフィクス自動認識測定
 カメラモジュール  カラーCCD(1280x1024)
 インターフェイス USB2.0
 PC仕様 Windows XP~Windows 8.1搭載のPC 又は UMPC (高性能モバイル PC)

 

 資料

PIAS II ご紹介資料

QEA_PIAS_IAS2000_画像評価概要説明

 

 

 

ハンディ型画質解析装置の動画

QEA社 ハンディ型画質解析装置 PIAS-II のご紹介


Contact ハンディ型画質解析装置に関するお問い合わせ

製品やサービスに関するお問い合わせやご相談は、下記のフォームをご利用下さい。後日、ご要望に応じてご連絡を差し上げます。
※法人のお客様のみの対応となります。ご了承ください。

お問い合わせ種別必須

セイ
メイ
Powered by ZIPSERVER

ご住所必須

出展企業情報

企業名
Quality Engineering Associates (QEA), Inc.
Quality Engineering Associates (QEA), Inc.
企業PR
アメリカQuality Engineering Associates (QEA)のハンディ型画像評価システム「PIAS-Ⅱ」の販売・サポートは日本電計にて行っております。