デバイス評価用のテストハンドラで、–60 °C to +175 °Cの温度範囲で使用可能
●信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム
●アクティブ・サーマル・コントロール・システム(ATC)による-60 °C~+175 °C(-76°F~+347°F)のデバイス試験温度
●低温/高温試験用 → 3温度試験
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●信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム
●アクティブ・サーマル・コントロール・システム(ATC)による-60 °C~+175 °C(-76°F~+347°F)のデバイス試験温度
●低温/高温試験用 → 3温度試験
Talosハンドラは、デバイス評価用のテストハンドラで、–60 °C to +175 °Cの温度範囲で使用することができ、品種切り替えもわずか3つの部品交換で実現できます。温度印加ではactive thermal control system (ATC) とよばれるテスト中のデバイスの自己発熱を制御する機能も有しています。
次世代、 斬新で使いやすいデバイス・ハンドリング・システム
マイクロチップ・エンジニアリング・テスト手順の自動化
●信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム
●アクティブ・サーマル・コントロール・システム(ATC)による-60 °C~+175 °C(-76°F~+347°F)のデバイス試験温度
●低温/高温試験用 → 3温度試験
●ユーザーの操作なしに、異なる試験温度で複数の試験サイクルを実施可能
●エスモ不死鳥カートとの組み合わせにより、市場で最も小さいテストセル設置面積を実現
●キットレス・テストハンドラーまたはカスタマイズされたハンドリングシステム。
●個々の要件と用途に応じたモジュラーシステム構成
●簡単に移動でき、設置面積が小さい
●すべてのテスターに対応する標準ドッキングインターフェース
●イーサネット経由のリモートコントロール
●高いMTBF値、少ないメンテナンス労力
●高精度で信頼性の高い4+1軸ポータルピックアンドプレースロボットシステム
●トレイ/チューブ/テープの手動ローディング/アンローディングオプション
●フリーピン1方向
●450Nの高い接触力 – ご要望により最大800Nの高い接触力も可能
●マルチタッチ対応15.6インチワイドスクリーンHMI
●ピックアンドプレース位置ティーチング用カメラシステム内蔵
●FIFOまたはBINソートモード、トレイ/チューブ割り当て自由
●ソフトウェアサポートによるトレイ/チューブ/テープの再配置機能
●RS232またはオプションのTCP/IPまたはGPIBテスターインターフェース