自動グリッチ/トランジェント検出機能付き波形デジタイザ
ラボから大量生産のATEまで、あらゆるテスト環境においてシームレスなインターフェイス、ハードウェアおよびソフトウェアの統合を可能にします。
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ラボから大量生産のATEまで、あらゆるテスト環境においてシームレスなインターフェイス、ハードウェアおよびソフトウェアの統合を可能にします。
自動グリッチ/トランジェント検出機能付き波形デジタイザ
Test Inspireは、半導体およびエレクトロニクス市場向けに、総所有コスト(TCO)と市場投入までの時間(Time to Market)を削減するテスト・ソリューションの新しい設計方法を提供します。
Test Inspireのコア・アーキテクチャであるVIPERは、ラボから大量生産のATEまで、あらゆるテスト環境においてシームレスなインターフェイス、ハードウェアおよびソフトウェアの統合を可能にします。
LYNXは、VIPERに組み込まれたNIST基準校正とチェッカー技術を活用し、ダウンタイムを削減し、精度を向上させます。
LYNXは、DUTの波形グリッチと過渡現象の解析と検出を目的としたVIPERテストオプションです。
●32チャンネル波形キャプチャ/デジタイザ
●AGND独立の差動入力
●最大100Mspsのプログラム可能なサンプル・レート
●最大14ビットの分解能
●チャネルごとに独立したレンジ
●最大+7.5Vおよび75Vの2入力レンジ
●1GByteキャプチャー共有メモリー
●デジタル・トリガー(各チャンネル
●ハードウェア同期/トリガー(LYNX毎)
●最大192チャンネル/VIPER
●組み込みコントローラー
●1G LAN/PCIeサポート
●DUT波形、グリッチ、トランジェントのキャプチャと検出の自動化サポート
Test Inspireは、ポータビリティと使いやすさの必要性から着想を得た、自動化、モジュール化、テストセル計装に焦点を当てたテスト効率化ソリューション・プロバイダーです。テスト・インスパイアのチームは、半導体ATEにおいて30年以上の経験を持っています。当社の設計アーキテクトは、お客様のニーズに焦点を当てたオーダーメードのソリューションを作成します。テスト・インスパイアのソリューションは、テスト・ベンチ、ATE、バーンイン、システム・レベル・テストにシームレスに統合され、テスト能力と生産性を向上させ、最適な総合装置効率を達成します。テスト・インスパイアの本社はオランダにあり、戦略的パートナーシップを活用して、納入されたソリューションの販売と現地サポートを行っています。