光学機器関連部品の製品一覧
全70件見つかりました。
高い機器信頼性、誰もが使いこなせる簡単操作！豊富なアプリケーションに対応します
Thermo Scientific DXR3シリーズ ラマン分光装置は、経験や知識を必要とせず、誰もが使いこなすことができるシステムです。 特許取得済みの光軸調整機能で、常にベストコンディションを保てます。また操作性を徹底追求した直感的なソフトウェアは解析にかかる時間を短縮。 さまざまな分析目的に柔軟に対応します。
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サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社｜最終更新日：2024/11/14
使いやすさと抜群の安定性！医薬、食品、化学、ポリマーなどのQA/QC専用近赤外アナライザー
『Thermo Scientific Antaris II 近赤外アナライザー』は、原料の受入検査や最終製品の確認、多成分同時定量分析などにおいて革新的な分析スタンダードをご提案します。直感的な操作性に加え、抜群の安定性とデータ再現性を誇ります。製造ラインや現場など、アットライン・ニアラインの過酷な環境下でもご使用いただけるコンパクトかつ頑丈なデザインで、メンテナンス性にも優れています。
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サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社｜最終更新日：2024/11/14
超高感度近赤外線カメラ 広帯域な高感度(400nm～1700nm) 高品質SWIRカメラ
□134万画素InGAsカメラ可視から近赤外線まで受光可能（400nm～1700nm） □ベルチェ冷却採用 □画像鮮明化機能（本体内蔵） □71fps表示でライブ画像がなめらか □近赤外線（SWIR）用のカメラからレンズ・照明・画像処理までトータル的に提案します □専用PCで、確実に記録（オプション） □弊社AFユニット接続可能
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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/08
表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。
◆6インチＸＹステージを搭載！ ◆水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！ ◆表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！ ◆±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（被写体や環境条件により異なる） ◆表裏２ｃｈオートフォーカスユニット組み合わせ可能！（オプション）
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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/08
両面顕微鏡計測システム 電動ＸＹステージとオートフォーカス機能を搭載
◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、ＭＥＭＳ、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆ＸＹステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。
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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/08
リバースエンジニアリング Plus
・他社製品を分析して新製品開発のためのアイデアを得たい！ ・搭載部品が廃番（ＥＯＬ）になったけど現物だけで回路図が無い！といったお悩みはありませんでしょうか？ わずらわしい調査は一切不要！ ・現物をご支給頂くだけで回路図まで起こしなおします。 ・開発設計会社としてPlusのご要望にもお応えいたします。
価格は,部品点数と基板層数によって変動いたしますのでお問い合わせください。
株式会社Wave Technology｜最終更新日：2024/10/23
紫外線や赤外線など光が目や皮膚におよぼす影響について評価測定を行ない、発光体の安全性を評価（リスク分け）を行ないます。 CEマーク取得の際には必要な測定となります。
各種製品の発光部分の光学測定を行ない、光安全性規格による「リスク分け評価」をいたします。 測定値と測定証明書（リスクグループ証明書）を発行いたします。
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旭光通商株式会社｜最終更新日：2024/09/06
JIS T 5916に基づく製品の評価測定を行っております。（光学試験のみ）
JIS T 5916 「歯科－口腔内カメラ」の測定を行いリスクグループ分けをいたします。 （評価は光計測のみ）
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旭光通商株式会社｜最終更新日：2024/09/06
JIS Q 17025、ISO/IEC 17025に対応した測色量・相関色温度の認定測定です。
JIS Q 17025、ISO/IEC 17025に対応した、測色量・相関色温度の認定測定です。
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旭光通商株式会社｜最終更新日：2024/09/06
・DC/ACの両測定に対応 ・抵抗に加えコンデンサの実装信頼性評価が可能
・導通抵抗や容量の変化 を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。 ・主に、部品・材料接合部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。
仕様用途に応じて金額は変動いたします。まずはお問い合わせください。
株式会社Wave Technology｜最終更新日：2023/12/01
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