外観検査装置 | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

外観検査装置の製品一覧

全69件見つかりました。

タッキング試験機 (TAC1000)

これまで個人差による誤差が大きかったタッキネスの測定データを、定量的に評価することが可能に！

進入速度、加圧力、加圧時間、引き離し速度を制御したプローブでサンプルに押し付け、引き離す過程で粘着力を測定します。データはパソコンで処理可能です。ダブル温調（特許）により、予備加熱した試料に加熱プローブを接触させ、温度を一定に保ちながら加熱と加圧を行い、粘着力を計測できます。この技術で、金型との離形成やトナー定着ベルトの測定が可能で、最短10ミリ秒でタッキネスも計測できます。

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株式会社レスカ｜最終更新日：2024/12/24

ラマンセンサー (Raman EYE)

プロセス・顕微計測が可能なハイブリッドラマンセンサー

532nm(緑色レーザー),785nm(赤色レーザー),830nm(近赤外レーザー)の波長から励起光源を選択でき、様々な材料計測を迅速に実現します。世界最小のプロセス・顕微計測ラマンセンサーを実現することで、あらゆるプラットフォームに搭載でき、お客様の環境や設備に合わせたご提案が可能です。

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メタセンシング株式会社｜最終更新日：2024/12/24

原子間力走査型電子顕微鏡 (FusionScope)

AFMとSEMのコンビネーションによるIn-situ測定

AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。

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日本カンタム・デザイン株式会社｜最終更新日：2024/12/24

コンパクトタイプ両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる）装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/15

MiSTAR555 (357-305)

「設置環境を選ばない測定機」三次元測定機。

幅広い精度保証温度範囲や省スペース構造など、従来機とは一線を画した現場測定機に特化し、測定の自動化・生産性向上に貢献する。

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株式会社ミツトヨ｜最終更新日：2024/11/15

CNC画像測定機　クイックビジョンACTIVE (QV-ACTIVE)

簡単操作で高機能、省スペースで多彩なニーズに応えます。

画像処理を用いて測定物の輪郭・エッジを検出することで、測長・幾何公差との照合が出来る測定機です。

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株式会社ミツトヨ｜最終更新日：2024/11/15

【BYK】ウェーブ-スキャン 3 デュアル（塗装表面性状測定） (Cat No.7400)

高光沢から中光沢表面のオレンジピールおよびDOI（写像鮮明性）測定

外観の管理はもはや最終トップコート検査には限られません。ウェーブ-スキャン 3 デュアルは、レーザー光源を用いて光沢面の光学プロファイルをスキャンします。さらに、高エネルギーの赤外 LEDで光沢表面の同じストラクチャースペクトル(0.1-30mm)を測定します。ダルネスは最新鋭のCCDカメラで測定され、＜0.1ｍｍのストラクチャーの表面写実性に関する情報が得られます。

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株式会社テツタニ｜最終更新日：2024/11/15