半導体・IC測定器・インサーキットテスタの製品一覧
全62件見つかりました。
様々な積載量に対応するオートドックマニピュレーター
●新型マニピュレーターシリーズ：
– 450kgまで
– 800kgまで
– 最大1,050 kg（2,315ポンド）
お問合せ下さい
ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/29
小型で便利なソリューション
●カウンターバランスウェイトプレートの着脱を容易にする人間工学的設計
●X軸/Y軸の高い可動域
●床面積の最適化のため、プローバーの下に収まる低床式脚部
●ハンドラーの下での位置決めを容易にする最大Z軸可動範囲
お問合せ下さい
ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/29
.
QFN / MLP、SOIC、SOT23、TSOT、SC70、SOT89、SOT223、MSOPパッケージなどの表面実装デバイス（SMD）用のテストハンドリング、ビジョン検査、レーザーマーキング、ソーティング＆テーピング用の高速自動テストハンドラ
お問合せ下さい
ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/25
精密さと完璧さの融合
●拡張アプリケーションスペース
●モジュール式ピンブロック設計
●間隔を自由に設定可能
●お客様のご要望に応じた様々なピンモジュールオプション – 800ピンから4,800ピンまで構成可能
お問合せ下さい
ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/10
プローブカードの位置決めが容易
●ヒンジ式プローブタワーキャリアとクランプ機構
●トップロードプローバーのプローブカード交換を容易に
●ヒンジ式プローブタワー
●リニアピンコンプレッション
お問合せ下さい
ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/10
普遍的な使用 – 既存のソリューションとの互換性
様々なテスタータイプ（ETS-364、ネクステスト・マグナムHV、HDなど）に対応。
– 内部リング7″
– センターリング9″
– 外部リング11″
お問合せ下さい
ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/10
デバイス評価用のテストハンドラで、–60 °C to +175 °Cの温度範囲で使用可能
●信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム
●アクティブ・サーマル・コントロール・システム（ATC）による-60 °C～+175 °C（-76°F～+347°F）のデバイス試験温度
●低温/高温試験用 → 3温度試験
お問合せ下さい
ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/10
１枚のカードで32ch digital, DPS, PPPMU機能
既存テスタで足りないデジタルテスト機能を最大192chまで補うことが可能です。
お問合せ下さい
ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/01/05
最近登録された製品
NI（ナショナル・インスツルメンツ）の製品・ソリューションを特集しています。
SNS公式アカウント
注目の動画
動画でわかる！ お悩み｢ズバッ｣と解決シリーズ（テクシオ・テクノロジー編）
計測業界の皆様必見！身近な悩みを解決できる動画を多数ご用意いたしました。問題解決のご参考にぜひご活用ください。
トピックス
- 2024/12/10
- 年末年始休業のお知らせ
- 2023/08/08
- TEST2023 第17回総合試験機器展 2023年9月13日(水)～9月15日(金)
- 2023/08/04
- 夏季休業のお知らせ
- 2023/05/09
- 第6回ものづくりAI/IoT展 2023年6月21日（水）～23日（金）
業界ニュースや登録メーカー各社の最新の情報をお届けいたします。
