画像処理機器 | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

画像処理機器の製品一覧

全82件見つかりました。

パラレルモニターボード (SVP-01-UVC)

DisplayPort&USB3.0によるマルチ入出力ソリューション

パラレルインタフェースの映像信号を表示・録画するためのボードです。DisplayPortモニタまたはUVC(USB3.0/PC)に出力できます。PCドライバにUVCを採用したことにより、弊社のキャプチャソフトだけでなく、UVC 対応のサードパーティ製キャプチャソフトで動作させることが可能です。 WindowsおよびLinux環境で動作させることができます。

168,000円

株式会社ネットビジョン｜最終更新日：2024/12/24

パラレルジェネレータ (SVP-01-GEN)

DisplayPort&USB3.0によるマルチ入出力ソリューション

USB3.0もしくはDisplayPortで入力される映像信号を、パラレル映像信号に変換・出力するためのカメラエミュレーションボードです。録画した映像を、カメラモジュールやCMOSイメージセンサーの映像のように、画像処理機器などに出力できます。また、PC上のCGの映像を使用することもできます。これにより、現場撮影が困難な場合や、センサー開発中でも先行して画像処理装置の開発が可能となります。

198,000円

株式会社ネットビジョン｜最終更新日：2024/12/24

OmniVision社 MIPI イメージセンサ用接続ボード (NV011-V)

OmniVisionカメラ映像をUSB3.0とHDMIに同時出力

OmniVision社製評価ツールで使用されるMIPIイメージセンサボードを、弊社MIPIモニターボードSVM-06に接続する為のボードです。 USB2.0環境が、USB3.0環境に移行でき、1080P（1920Hx1080V）-60fps画像の表示保存が可能となります。イメージセンサからの映像信号をUSB3.0経由でPCに取り込む事や、4K 高解像度HDMIモニタに出力する事が可能です。

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株式会社ネットビジョン｜最終更新日：2024/12/24

2ch入力ボード／2ch出力ボード (ステレオSVM／ステレオSVO)

MIPIステレオカメラの映像を簡単録画／MIPI CSI-2を2系統同時に出力可能

SVM-06とSVO-06β*1に搭載されているターゲット接続コネクタ（CN4）の、基本ポート60pos側と、新たに拡張したポート60pos側をつかって、MIPI CSI-2を2系統同時に入力/出力することが可能となりました。これによりMIPIカメラ2個を使ったステレオカメラの映像を簡単に録画・再生することが可能となります。

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株式会社ネットビジョン｜最終更新日：2024/12/24

ラマンセンサー (Raman EYE)

プロセス・顕微計測が可能なハイブリッドラマンセンサー

532nm(緑色レーザー),785nm(赤色レーザー),830nm(近赤外レーザー)の波長から励起光源を選択でき、様々な材料計測を迅速に実現します。世界最小のプロセス・顕微計測ラマンセンサーを実現することで、あらゆるプラットフォームに搭載でき、お客様の環境や設備に合わせたご提案が可能です。

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メタセンシング株式会社｜最終更新日：2024/12/24

8インチXY電動ステージ制御　両面顕微鏡計測システム (TOMOS-80XY)

ウエハー表裏面のアライメントマークの自動検査システム

◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、ＭＥＭＳ、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆ＸＹステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。

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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/15

両面顕微鏡位置ずれ計測システム (TM-200)

AF機能を搭載し表裏の位置ずれを高精度自動計測！ワークを裏返しせず、同軸で表裏の観察・外観検査が可能！

・小型化高精度化し、両面の位置ずれを±１umで測定・FA自動化へ対応可能なシステム・両面ともにAFを搭載可能で、再現性が高い計測が可能・下側にIRカメラも搭載可能で、内部の位置ずれも計測可能

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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/15

コンパクトタイプ両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる）装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

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株式会社フローベル｜最終更新日：2024/11/15