EMI/EMCプリテストシステムの製品一覧
全121件見つかりました。
ICのパルス耐性を測定するためのパルスジェネレーター
IC のパルス耐性を判定するために使用されます。バースト/ESD デバイス テスト中、生成されたパルス状の妨害は、テスト対象デバイス内のすべての IC に到達します。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/23
ケーブル内のバースト電流または ESD 電流パルスを検出
検出された妨害パルスは検出器の LED に表示され、リレー出力 (無電位) または光ファイバー ケーブルを介して信号としてさまざまな評価機器に送ることができます
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/17
光信号伝送 バスシステム
EMC テスト中や大きな電位差 (高電圧) がある場合に、光ファイバーケーブルを介して高速 CAN 信号を伝送できます。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/17
電気 CAN または LIN 信号を光信号に変換します。
2つの Opto-Box 100 を使用すると、既存のケーブル接続を分割し、ケーブルの一部を光ファイバー接続に置き換えることが容易になります。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/17
極薄の先端
P23 の干渉パルスは、リセット、クロック、クォーツ、またはそれぞれの信号線などのテスト対象のデジタル IC 入力を通過して結合します。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/15
干渉耐性解析のための開発ツール
先端から生成されるファーストトランジェント磁場は、アセンブリ上の弱い箇所を検出することができます。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/15
開発段階でのアセンブリの弱点を検出可能
カップリングクランプの原理に従って、ファーストトランジェント磁場が先端から生成されます。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/15
干渉を受ける電子デバイスおよびアセンブリ内の非反応性高速過渡パルス磁場を測定
テスト対象デバイスで問題を引き起こすバーストおよび ESD プロセスを分析が可能
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/15
開発段階でプリント基板の EMI 抑制に使用される EMC ツールのセット
E1 セットを使用して、バーストおよび ESD 干渉の原因を迅速に特定できます。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/15
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【菊水電子工業】新製品：双方向大容量直流電源 PXBシリーズが2023年4月7日より販売開始されました！
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