測定・試験・分析装置の製品一覧

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640×480画素、0.04℃温度分解能。超解像技術SuperResolutionで、1280×960画素を実現! 性能・機能・実用性を兼ね備えた、テストーサーモグラフィ最上位モデル

testo 890は、640×480画素と0.04℃温度分解能の検出器をもつテストーの最上位サーモグラフィ。標準装備のSuperResolutionで4倍の1280×960の超高画素画像を得ることができます。水平・垂直方向(3×3)のパノラマ撮影機能、定期点検用「場所認識」機能、動画記録機能を搭載

価格2,100,000円(税別)~

株式会社テストー|最終更新日:2025/01/27

GRL-USB-PD-C2-EPRは、240Wまで対応したUSB Power Delivery3.2の最新規格に対応した試験をボタン一つで簡単に試験できます。

USB Type-C PDのコンプライアンステストに必要なツールをはもちろん、PythonやC#に対応したAPIを提供しているので、独自の試験も簡単に構築可能です。また、2ポート搭載しているので、ソースおよびシンクを独立して動かすことができ、USB Type-C PDの開発に欠かせないデバッグ機能や別売りのソフトウェアを使うことで、OCPやケーブルのIR Dropなどの試験も簡単にできます。

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グラナイトリバーラボ・ジャパン株式会社|最終更新日:2025/01/09

IGBTやMOSFET、トランジスタ、ダイオードなど各種半導体の 特性測定に最適

5,000V耐圧のパワーデバイスのブレークダウン測定や、SiC,GaN、IGBTやMOSFET、トランジスタ、ダイオードなど各種半導体の 特性測定に最適です。CS-3100-300V廉価版モデルもご用意しております。

価格3,200,000円~

岩崎通信機株式会社|最終更新日:2024/12/27

これまで個人差による誤差が大きかったタッキネスの測定データを、定量的に評価することが可能に!

進入速度、加圧力、加圧時間、引き離し速度を制御したプローブでサンプルに押し付け、引き離す過程で粘着力を測定します。データはパソコンで処理可能です。ダブル温調(特許)により、予備加熱した試料に加熱プローブを接触させ、温度を一定に保ちながら加熱と加圧を行い、粘着力を計測できます。この技術で、金型との離形成やトナー定着ベルトの測定が可能で、最短10ミリ秒でタッキネスも計測できます。

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株式会社レスカ|最終更新日:2024/12/24

プロセス・顕微計測が可能なハイブリッドラマンセンサー

532nm(緑色レーザー),785nm(赤色レーザー),830nm(近赤外レーザー)の波長から励起光源を選択でき、様々な材料計測を迅速に実現します。世界最小のプロセス・顕微計測ラマンセンサーを実現することで、あらゆるプラットフォームに搭載でき、お客様の環境や設備に合わせたご提案が可能です。

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メタセンシング株式会社|最終更新日:2024/12/24

AFMとSEMのコンビネーションによるIn-situ測定

AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。

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日本カンタム・デザイン株式会社|最終更新日:2024/12/24

500V~10,000V のプログラム可能なインパルス電圧により、コイルを損傷することなく、低エネルギー試験が可能

絶縁不良を検出するための理想的なテスト方法を提供し、高速サンプリング技術を使用して、標準/マスターコイルとDUT (被試験デバイス) の波形を測定器に保存が可能。また部分放電試験可能!

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2024/12/23

●多CH・絶縁・頑丈・高速・長期記録、現場や研究開発試験にグローバル スタンダード レコーダ●高速サンプリング波形判定機能搭載●発生と記録の二役を一台で実現、測定した不具合波形を再現出力

●搭載メモリを選べる3モデル●高速サンプリングを活かした、波形判定機能搭載●20MS/sの高速サンプリング、ch間絶縁●アナログ16ch+ロジック標準16ch〜アナログ10ch+ロジック64ch●粉塵が入りにくい構造で、悪環境に強い●油汚れに強い大型コーティングキートップ●ワンタッチ1秒で紙充填、素早く印字50mm/s

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日置電機株式会社|最終更新日:2024/12/19

使いやすさを・カタチに凝縮

•耐振動・耐環境温度UP、車載走行試験に威力を発揮 •A4・薄型・ポータブル •多チャネルの混在記録、交換できるプラグインユニット入力 •AC/外部DC/内蔵バッテリ •SDカードへリアルタイム保存 •絶縁入力・AC/DC100Vまで絶縁で安全に測定

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日置電機株式会社|最終更新日:2024/12/19

ICNIRP2010ガイドラインに基づく磁界評価試験に最適

・ICNIRP2010ガイドラインに基づく評価試験に最適 ・IEC/EN62233 に対応 ・空間分布の調査に最適な3cm2 磁界センサと、IEC/EN62233で使われる100cm2 磁界センサを標準付属 ・選べる表示単位 (T, A/m, G) ・簡単操作でらくらく測定 ・PCアプリケーション標準付属 ・3 軸 (XYZ) の波形出力、合成実効値出力付

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日置電機株式会社|最終更新日:2024/12/19

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