EMC試験の製品一覧
全431件見つかりました。
測定信号（例えば、高分解能の近接場プローブの弱い信号）の増幅用に設計
PA 306 SMAプリアンプ（100kHz ～ 6GHz, SMA）、電源ユニットとケースのセット
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/10
測定信号（例えば、高分解能の近接場プローブの弱い信号）の増幅用に設計
PA 203 BNCプリアンプ（100kHz ～ 3GHz, BNC）、電源ユニットとケースのセット
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/10
測定信号（例えば、高分解能の近接場プローブの弱い信号）の増幅用に設計
PA 203 SMAプリアンプ（100kHz ～ 3GHz, SMA）、電源ユニットとケースのセット
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2025/01/10
小型化、移動・収納に便利な仕様
CISPR11/15,EN55015,J55015/電気用品安全法等に対応した、ループ直径2mの磁界強度測定用ラージループアンテナです。
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日本シールドエンクロージャー株式会社｜最終更新日：2024/12/26
これからの静電気試験をもっと楽に！
帯電した人体からの静電気放電現象を模擬し、電子機器の静電気放電に対する耐性を評価するための試験器です。電子機器の操作パネルやボタンスイッチ、筺体などに帯電した人体が接近して生じる静電気放電は、高電圧かつ高周波のノイズを発生し、電子機器の誤動作を引き起こす要因となります。静電気放電によるノイズを再現する静電気試験は、市場でのノイズによるトラブルを防ぐ必要不可欠なイミュニティ試験のひとつです。
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株式会社ノイズ研究所｜最終更新日：2024/12/17
近接場磁場の高分解能測定用に設計。●IEC 61967-3に準拠したICによる表面スキャン ●IC経由のボリュームスキャン ●ピンスキャン の測定が可能。
ICR HV セットには、磁場測定用の ICR 近接場マイクロプローブが 1 つ含まれています。 測定コイルはプローブヘッド内で水平。 ICR プローブは、ポジショニング システム (Langer社スキャナー) で操作されます。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/11/19
ダブルリッジブロードバンド導波管ホーンアンテナ、V メスコネクタ (1.85mm)
● 周波数：5～70GHz
● 寸法 (mm): 38x55x74mm
● 重量（N.W.）：70g
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/11/19
複数の規格の要件を満たすユニバーサル 5µH LISN
TBL05100 は、工場で 50Ω // 5µH + 1Ω にジャンパー接続されており、CISPR 16-1-2 および CISPR 25 インピーダンス、位相、絶縁仕様を満たしています。
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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2024/11/19
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