欠陥検査装置 | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

欠陥検査装置の製品一覧

全50件見つかりました。

卓上走査電子顕微鏡 (JCM-7000)

光学像からSEM観察、元素分析まで、高い操作の壁を破る卓上SEM

①Zeromag　光学像を拡大するとSEM像に切り替わります　②Live analysis 観察中の視野の主元素がわかります　③Live 3D　SEM像と3D画像を、Liveで2画面表示することができます　（代理店：日本電計（株）と共同出展）

6,500,000円～

日本電子株式会社｜最終更新日：2020/09/11

蛍光X線分析装置 (EA1400)

RoHS対応をはじめ、品質管理、異物解析などに対し、迅速な分析が可能です。

新型SDD検出器を採用、高感度、高スループットな測定が可能な蛍光X線分析装置です。真空システムと新たなSDDの組み合わせで、軽元素を含むスラグやセメントの工程管理や品質管理を強化できます。試料同軸観察・X線垂直照射方式で、異物分析の精度が向上しました。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（代理店：日本電計株式会社と共同出展）

9,500,000円～

株式会社日立ハイテクサイエンス｜最終更新日：2020/08/27

4Kモニター対応機能分割型デジタルマイクロスコープ (HRX-01)

デジタルマイクロスコープ専門メーカーの最新機種。高精細画像、正確さ、操作性を追求。また「選べるデジタルマイクロスコープシステム」ですべての皆様に最適なご提案を致します。

4Kモニター対応デジタルマイクロスコープ「HRX-01」0～7,000倍の観察倍率。従来の一体型モデルと異なり、シンプル（観察特化）から、フルスペック（多機能）システムで、機能選択が可能です。新製品として「高解像度テレセン電動ズームレンズ（10～200倍）」もオススメです。広視野でありがながら歪みの少ない画像を捉えます。電動ズーム制御も追加され、より簡単に使用可能です。

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株式会社ハイロックス｜最終更新日：2020/06/01

ナノ３D光干渉計測システム (VS1800)

光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。

光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。

15,600,000円～

株式会社日立ハイテク｜最終更新日：2020/03/25

Φ3.9mm 先端可動式工業用内視鏡 TFIBER (3R-TFIBER39)

ジョイスティックで直観的に先端を操作

ジョイスティック操作がしづらい先端可動式の内視鏡は思い通りに動かすことができないストレスから、業務に支障をきたす可能性があります。この先端可動式工業用内視鏡に搭載されたジョイスティックは、指を軽くあてるだけで、俊敏に可動。自然な感覚で操作できます。見たい場所へカメラを瞬時に向けられ、作業の高速化・効率アップに繋げます。

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スリーアールソリューション株式会社｜最終更新日：2019/07/18