EMC試験の製品一覧

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この広帯域ホーンアンテナは直線偏波で、EMI テスト、方向探知、監視、アンテナゲインとパターン測定、その他のアプリケーションに最適

14 ~ 110GHz で動作し、公称 13dB のゲインと 1.5:1 の低 VSWR を備え、1.0mm メス出力コネクタを備えています。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/02/03

直線偏波で、EMI テスト、方向探知、監視、アンテナゲインとパターン測定、その他のアプリケーションに最適

10 ~ 110GHz で動作し、公称 13dB のゲインと 1.5:1 の低 VSWR を備え、1.0mm メス出力コネクタを備えています。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/02/03

ICのパルス耐性を測定するためのパルスジェネレーター

IC のパルス耐性を判定するために使用されます。バースト/ESD デバイス テスト中、生成されたパルス状の妨害は、テスト対象デバイス内のすべての IC に到達します。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/01/23

ケーブル内のバースト電流または ESD 電流パルスを検出

検出された妨害パルスは検出器の LED に表示され、リレー出力 (無電位) または光ファイバー ケーブルを介して信号としてさまざまな評価機器に送ることができます

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/01/17

光信号伝送 バスシステム

EMC テスト中や大きな電位差 (高電圧) がある場合に、光ファイバーケーブルを介して高速 CAN 信号を伝送できます。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/01/17

電気 CAN または LIN 信号を光信号に変換します。

2つの Opto-Box 100 を使用すると、既存のケーブル接続を分割し、ケーブルの一部を光ファイバー接続に置き換えることが容易になります。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/01/17

開発段階で電子アセンブリの弱点を特定して除去するために使用

先端でバーストまたは ESD フィールドを生成します。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/01/15

極薄の先端

P23 の干渉パルスは、リセット、クロック、クォーツ、またはそれぞれの信号線などのテスト対象のデジタル IC 入力を通過して結合します。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/01/15

干渉耐性解析のための開発ツール

先端から生成されるファーストトランジェント磁場は、アセンブリ上の弱い箇所を検出することができます。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/01/15

開発段階でのアセンブリの弱点を検出可能

カップリングクランプの原理に従って、ファーストトランジェント磁場が先端から生成されます。

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ウェーブクレスト株式会社|最終更新日:2025/01/15

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