Semiconductor Inspection
半導体産業展の
カテゴリ一覧
最新の半導体検査・評価に関するあらゆる製品が一堂に会する専門Web展示会。Si半導体やダイヤモンド(C）、シリコンカーバイド（SiC）を使用したワイドバンドギャップ半導体から半導体を用いたパワーデバイスの検査や評価に関連した技術が揃い、比較検討の為の情報収集に便利です。
注目の製品
- 電気特性検査(14)
- 赤外分光法（FTIR）(7)
- 熱伝導率測定(4)
- 熱膨張測定(4)
- 加速寿命試験(3)
- 熱サイクル試験(9)
- 外観検査(16)
- 寸法計測(15)
- 膜厚測定(1)
- 欠陥検査(7)
- パッケージ検査(1)
半導体産業展に関するニュース
New Products 最近追加された製品
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ラインインピーダンス安定化回路網(LISN) (MPW201B)
マイクロニクス株式会社
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RF 高飽和 電流モニタリング プローブ (TBCP5-150K400 )
ウェーブクレスト株式会社
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ループ アンテナ RS101 30Hz–100KHz (TBRS101 )
ウェーブクレスト株式会社
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ループアンテナ RE101 30Hz–100KHz (TBRE101 )
ウェーブクレスト株式会社
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RF コモンモードチョーク (TBCMC-1 )
ウェーブクレスト株式会社
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ハイパスフィルター (TBHPF3-150kHz)
ウェーブクレスト株式会社
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ハイパスフィルター (TBHPF2-150kHz)
ウェーブクレスト株式会社
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ハイパスフィルター (TBHPF1-150kHz B)
ウェーブクレスト株式会社
